漆膜測(cè)厚儀影響因素

漆膜測(cè)厚儀適用于導(dǎo)磁材料，一般為鋼、銀、鎳。測(cè)量精度高。

漆膜測(cè)厚儀影響因素：

基體金屬磁性。

磁法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(低碳鋼磁性變化在實(shí)際應(yīng)用中可視為輕微)。為避免熱處理和冷處理因素的影響，儀器校準(zhǔn)應(yīng)使用與試件基體金屬性質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)片；也可用于校準(zhǔn)涂層試件。

基體金屬電性質(zhì)。

基體金屬的電導(dǎo)率與材料成分和熱處理方法有關(guān)，對(duì)測(cè)量有影響。使用具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)電影校準(zhǔn)儀器。

基體金屬厚度。

每個(gè)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。

邊緣效應(yīng)

儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此，靠近試件邊緣或內(nèi)角的測(cè)量是不可靠的。

曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。隨著曲率半徑的降低，曲率半徑顯著增加。因此，彎曲試件的表面測(cè)量是不可靠的。

試件的變形

測(cè)試頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)量可靠的數(shù)據(jù)。

表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的表面會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)誤差和意外誤差。每次測(cè)量時(shí)，應(yīng)在不同位置增加測(cè)量次數(shù)，以克服這種意外誤差。如果基體金屬粗糙，必須在粗糙度相似的基體金屬試件上檢查儀器零點(diǎn)；或者用對(duì)基體金屬無腐蝕的溶液溶解去除覆蓋層，然后檢查漆膜測(cè)厚儀零點(diǎn)。

磁場(chǎng)

各種電氣設(shè)備產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重干擾磁法的測(cè)厚。